標(biāo)題：數(shù)字式局部放電儀三通道局放檢測(cè)儀

產(chǎn)品概述

數(shù)字式局部放電儀三通道局放檢測(cè)儀

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量通道

A、B 2通道(能同時(shí)對(duì)放電信號(hào)進(jìn)行采集)

檢測(cè)靈敏度

0.1pC

測(cè)量頻帶

3dB帶寬10kHz～300kHz

程控濾波器設(shè)置檔位

低端

10，20，40kHz

gao端

100，200，300 kHz

增益動(dòng)態(tài)范圍

120dB

采樣速度

每通道0.1μs/點(diǎn)

采樣精度

8位±1/2LSB

測(cè)試電壓頻率

30，100，150，200，250Hz或任意Hz

校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器

DBJF-H

校準(zhǔn)脈沖電壓

10V，5V，2V，1V，0.5V，0.2V六檔可調(diào)

校準(zhǔn)電容

50pF，200pF兩檔可調(diào)

校準(zhǔn)脈沖電壓上升時(shí)間

＜60ns、脈沖寬度＞20μs

校準(zhǔn)脈沖電壓下降時(shí)間

＞100μs

校準(zhǔn)脈沖相角可調(diào)范圍

0～360度

局部放電峰值顯示

0～10000 pC

元器件包裝方式

永jiu可用的包裝

工作電源

AC 220V±10%，50Hz、功率＜100VA、保險(xiǎn)0.5A

功能：

1、局部放電檢測(cè)系統(tǒng)純程控工作方式

2、全漢字菜單提示

3、自動(dòng)校準(zhǔn)、自動(dòng)同步、自動(dòng)電壓記錄、自動(dòng)測(cè)量保存回放

4、自動(dòng)生成試驗(yàn)報(bào)告

5、二維及三維局部放電圖譜顯示

6、采用數(shù)字開(kāi)窗技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)

7、雙通道測(cè)量及數(shù)字差分技術(shù)，可同時(shí)測(cè)量?jī)蓚€(gè)試品或一個(gè)試品兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)的局部放電信號(hào)，可方便地分析局部放電信號(hào)的來(lái)源

簡(jiǎn)介：

本產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于電力系統(tǒng)的劇院檢測(cè)，包括高壓開(kāi)關(guān)柜、環(huán)網(wǎng)柜、電壓/電 流互感器、變壓器(包括干式變壓器)、GIS、架空線(xiàn)路、電纜等設(shè)備的絕緣狀態(tài)檢測(cè)， 通過(guò)以下幾項(xiàng)指標(biāo)來(lái)衡量電氣設(shè)備的放電程度： 局部放電強(qiáng)度檢測(cè)：通過(guò)測(cè)量 1 個(gè)工頻周期內(nèi)的放電信號(hào)，根據(jù)放電脈沖序列 中最大值（dB）來(lái)表征局部放電的強(qiáng)度。 局部放電頻度檢測(cè)：裝置測(cè)量 1 個(gè)工頻周期內(nèi)的放電信號(hào)，提取放電脈沖并根 據(jù)放電脈沖數(shù)量來(lái)表征局部放電的頻度。

工作原理：

局部放電測(cè)量方法分為電測(cè)法和非電測(cè)法兩大類(lèi)。電測(cè)法應(yīng)用較多的是脈沖電流法和無(wú)線(xiàn)電干擾電壓法。電測(cè)法已廣泛用于局部放電的定量測(cè)量。

脈沖電流法的測(cè)試原理是試品產(chǎn)生一次局部放電，在其兩端就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)瞬時(shí)的電壓變化，此時(shí)在被試品、耦合電容和檢測(cè)阻抗組成的回路中產(chǎn)生一脈沖電流。脈沖電流經(jīng)過(guò)檢測(cè)阻抗會(huì)在其兩端產(chǎn)生一脈沖電壓，將此脈沖電壓進(jìn)行采集、放大、顯示等處理，就可產(chǎn)生局部放電的一些基本量，尤其是局部放電量。

數(shù)字式局部放電儀三通道局放檢測(cè)儀

注意事項(xiàng)：

1. 在試驗(yàn)開(kāi)始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線(xiàn)路，以免線(xiàn)路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線(xiàn)是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線(xiàn)被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故；

2.對(duì)于連接線(xiàn)應(yīng)避免將jian端暴露在外，防止jian端電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線(xiàn)及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸；

3. 一般情況下，在試驗(yàn)過(guò)程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿(mǎn)刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿(mǎn)刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值；